ザインが急伸、米シンポジウムでデータマイニング用いた品質改善の講演

　ザインエレクトロニクス <6769> は１１５円（８．０１％）高の１５５０円まで急伸。２０日午前１１時３０分頃、世界的な技術国際学会のＩＥＥＥ（米国電気電子学会）が開催する「ＶＬＳＩ・テスト・シンポジウム２０１６」で招待講演を行うと発表している。 　催しは４月２５日－２７日の３日間に米ラスベガスで開かれ、マイクロエレクトロニクス回路やシステムのトレンド、テスト、デバッグ、修復に関する新手法を探る。ザインは実例を用いてデータマイニングを応用した車載製品の品質改善手法について発表する。（編集：松浦直角）（イメージ写真提供：１２３ＲＦ）